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SWIR激光光斑分析儀
SWIR光斑分析儀1
SWIR光斑分析儀2

SWIR光斑分析儀

此系列設計專門用于通訊領域的光束質量分析儀,主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長,非常適合用于可見光和SWIR范圍內激光的成像解決方案。

此系列設計專門用于通訊領域的光束質量分析儀,主要用于測量850nm,1310nm和1550nm等通訊波長,非常適合用于可見光和SWIR范圍內激光的成像解決方案。

新型號BND-S0503U-BasicBND-S0505U-Basic
波長范圍400-1700nm400-1700nm
傳感器類型InGaAsInGaAs
有效孔徑3.2mm x2.6mm6.4mm x 5.1mm
像素大小5μm×5μm5μm×5μm
分辨率656x 5201280x 1024
可測光斑范圍50μm-2.6mm50μm-5.1mm
應用范圍:需要對激光光斑形狀和位置進行檢測的場合,如激光加工設備集成、光路調試,激光器生產、維護,光學器件質量檢查,激光腔鏡調整,外光路準直,光纖對準耦合分析等。

注釋:

此系列光斑分析儀,在使用過程中要注意損傷閾值,保持在飽和閾值度以下,以確保安全的功率水平,如果損壞更換費用特別高。

主要特征

▲ 波長響應范圍 400nm - 1700nm

▲ 實時監(jiān)測光束形狀以及位置等變化

▲ 高分辨率高

▲ 兼容測量連續(xù)以及脈沖激光器

軟件


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