許多實(shí)驗(yàn)技術(shù)依賴于對(duì)帶電粒子的定量測(cè)量。應(yīng)用范圍從非常簡(jiǎn)單的，比如使用皮可安培計(jì)測(cè)量直流陽極電流，到復(fù)雜的，比如使用時(shí)間分辨粒子計(jì)數(shù)測(cè)量原子態(tài)壽命。

通常，感興趣的信號(hào)會(huì)被噪聲所掩蓋。這種噪聲可能是過程本身固有的：離散電荷受到泊松統(tǒng)計(jì)的支配，從而產(chǎn)生射頻噪聲?；蛘?，噪聲可能來自更普通的源，比如機(jī)械振動(dòng)、熱電動(dòng)勢(shì)或感應(yīng)干擾。

本文描述在存在大干擾源的情況下，進(jìn)行有用的弱信號(hào)測(cè)量的方法，重點(diǎn)放在測(cè)量的電子方面。

圖中詳細(xì)說明了典型測(cè)量的元素。在實(shí)驗(yàn)中，將通過將激光穿過氣體并測(cè)量產(chǎn)生的離子數(shù)來確定氣體的光電離截面。

在許多應(yīng)用中，探測(cè)器的輸出在分析之前必須被放大或者從電流轉(zhuǎn)換為電壓。放大器的選擇標(biāo)準(zhǔn)包括類型(電壓或跨導(dǎo))、增益、帶寬和噪聲。通常，放大器的噪聲將成為測(cè)量中信噪比的限制因素，特別是在電荷探測(cè)器沒有增益的情況下。

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