如今，增材制造(AM)已經(jīng)在工業(yè)規(guī)模上得到應(yīng)用，可以用于打印原型，因此制造出的零件質(zhì)量和工藝的可重復(fù)性變得至關(guān)重要。影響AM產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)關(guān)鍵因素是激光和光學(xué)組件的狀態(tài)。為了確保正確運(yùn)行、優(yōu)化系統(tǒng)性能并防止?jié)撛诘馁|(zhì)量問題，激光和光學(xué)系統(tǒng)需要定期監(jiān)測，特別是在工業(yè)環(huán)境中。

最常見的故障：激光功率降低、由于光學(xué)部件污染導(dǎo)致的剖面畸變以及熱透鏡效應(yīng)，這會(huì)導(dǎo)致焦點(diǎn)偏移和焦斑放大。所有這些問題都可能阻礙粉末顆粒之間的熔合，導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量降低和再現(xiàn)性減弱。

Ophir提供專為AM工作室設(shè)計(jì)的儀器

一、BeamWatch AM

基于瑞利散射，提供無接觸、實(shí)時(shí)的整個(gè)光束傳播特性表征。功率測量是通過一個(gè)集成的風(fēng)冷熱傳感器進(jìn)行的。風(fēng)扇只在BeamWatch AM從工作室中取出后運(yùn)行，以避免揚(yáng)起金屬粉末。

二、BeamPeek

用經(jīng)典的光束剖面測量方法，結(jié)合在AM工作室內(nèi)移動(dòng)構(gòu)建平面進(jìn)行焦斑測量。激光功率通過一個(gè)集成的熱傳感器進(jìn)行測量。特殊的專利光束排放器不需要主動(dòng)冷卻，并且可進(jìn)行更換。

三、BeamPeek和BeamWatch AM 比較

那么，那種適合你的AM工作室的理想光束特性儀器呢?無論選擇BeamWatch AM還是BeamPeek，取決于的分析方法和應(yīng)用。

BeamWatch AM一次性從側(cè)面測量整個(gè)光束焦斑，而BeamPeek需要手動(dòng)移動(dòng)構(gòu)建平面，逐層進(jìn)行準(zhǔn)確的焦斑測量。這意味著如果應(yīng)用需要整體光束特性的同時(shí)測量和實(shí)時(shí)焦點(diǎn)偏移監(jiān)測，BeamWatch AM將更適合，而對于在光束傳播的不同橫截面上進(jìn)行更準(zhǔn)確的測量，BeamPeek是首選。

此外，BeamWatch AM需要壓縮空氣/氣體沖洗，既用于其操作，也用于保護(hù)免受金屬粉末顆粒的影響，而BeamPeek不需要壓縮空氣，并且其被動(dòng)光束排放器可進(jìn)行更換，縮短測量之間的時(shí)間間隔。

深圳市博納德精密儀器有限公司經(jīng)營的產(chǎn)品有：Ophir激光功率計(jì)、Ophir光束質(zhì)量分析儀、Scitec光學(xué)斬波器、SRS放大器、Femto電流放大器、Femto電壓放大器、Femto光電探測器、Femto鎖相放大器、脈沖發(fā)生器、AA Lab Systems放大器/信號(hào)調(diào)節(jié)器等其它設(shè)備，如有需要可以聯(lián)系我們。